组装成功的光纤信息插座的光学性能应满足表 1 的要求。 表 1 光纤现场连接器的光学性能要求 单位： db 序号 检测项目 平均值 极限值 a 插入损耗 ≤0.3 ≤0.5 b 回波损耗 － ≥40 （ pc ）； ≥55 （ apc ） 3.9 机械性能和环境性能要求 光纤现场连接器插座的机械性能和环境性能应满足表 2 的要求。 表 2 光纤现场连接器的环境性能要求 单位： db 4 、测试要求 4.1 试验条件 4.1.1 试验环境要求 如果没有指明试验环境要求，则代表测量在 gb/t 2421.1-2008 中规定的标准大气压条件下进行；测量所用仪器仪表的精度均应符合要求，并进行定期检查。 4.1.2 试验光源和尾纤 测试时采用 1310mm 和 1550nm 的标准波长。 测试时采用单模光纤。 4.1.3 试样 进行机械性能试验和环境性能试验的试样均是经过现场组装试验后，插入损耗和回波损耗测试合格的样品。 4.1.5 测量前的准备 测量前应用无绒纤维纸或脱脂棉对插针体及端面和适配器套筒内表面进行擦拭清洁，必要时使用无水擦洗。 4.2 测量和试验 4.2.1 插入损耗测量 光纤现场连接器插头的插入损耗按照如下方法进行测量： 清洁标准插头和标准适配器； 按照图 1 所示的测试原理图进行测量，待系统稳定后，测量并记录 p1 及 p0 值； 按照公式 (1) 计算插头型光纤现场连接器的插入损耗，指标应符合表 1 a 的要求。 插入损耗＝ -10log （ p1/p0 ） ……………(1) 式中： p1 及 p0 单位为 dbm ，插入损耗的单位为 db 。 图 1 光纤现场连接器插头的插入损耗测试原理图 4.2.2 回波损耗测量 按 yd/t 1272.3-2005 中 6.5 规定的方法进行测量，指标应符合表 1 b 的要求。 4.2.3 现场组装试验 a 、条件 现场组装试验通常同 4.2.1 和 4.2.2 的测试程序同时进行。组装测试前需提供下列物品： 1 、小样本数为 32 的光纤现场连接器； 2 、光纤或光缆样品； 3 、常用或施工工具； 4 、满足 4.2 测试条件的测量仪表。 b 、程序 由对待测产品有组装经验的操作员在测试现场在光纤或光缆样品上组装光纤现场连接器，分别用 4.2.1 和 4.2.2 的测试程序测量插入损耗和回波损耗，记录样品组装和测试所需的总时间 “t” ，并记录符合 4.2.1 和 4.2.2 要求的合格光纤现场连接器数量 “n” 。组装失败的样品可开启重新组装，但需将所耗时间计入到时间 “t” 内。 c 、平均组装时间 平均组装时间为总的组装时间 t 除以组装合格的样品数 “n” 。 4.2.4 高温 按照如下方法进行光纤现场连接器的高温测量： a 、条件 —— 高温温度： +85℃ ； —— 持续时间： 168h 。 b 、程序 —— 将试样在室温环境下进行预处理，并测量试样的插入损耗值和回波损耗值，作为试验前的原始值； —— 将试样置于精度为 ±2℃ 的可恒温的烘箱里，温度为 85℃ ，保持恒温 168 小时。试验结束后，将试样拿出放置在室温环境 2 小时后，测试并记录插入损耗值和回波损耗值。 4.2.6 温度循环 按照如下方法进行光纤现场连接器的温度循环测量： a 、条件 —— 极限低温温度： ta ＝－ 40℃ ； —— 极限高温温度： tb ＝＋ 75℃ ； —— 循环次数： 21 次循环（ 1 次循环 8 个小时），共 168 小时。 b 、程序 —— 将试样在室温环境下进行预处理，并测量试样的插入损耗值和回波损耗值，作为试验前的原始值； —— 将试样置于精度为 ±2℃ 的可恒温的高低温循环箱里。按图 8 所示的温度变换曲线，从室温 23℃ 恒温 1 小时后匀速升温 1 小时到 ta 温度，在 ta 恒温 1 小时后，匀速降温 1 小时到 23℃ ，恒温 1 小时，再继续匀速降温 1 小时到 tb ，在 tb 恒温 1 小时后，再匀速升温到室温 23℃ ，一个循环结束。持续 21 个循环共 168 小时。试验结束后，将试样拿出放置在室温环境 2 小时后，测试并记录插入损耗值和回波损耗值。 c 、试验后的情况 —— 试验后试样的插入损耗变化量、回波损耗变化量和外形变化的测试结果应符合表 2 c 的要求。 按照如下方法进行光纤现场连接器的振动测量： —— 将试样在室温环境下进行预处理，并测量试样的插入损耗值和回波损耗值，作为试验前的原始值； —— 将光纤现场连接器试样的头部带上保护防尘帽；在距离试样头部 1.5m 的位置固定尾部的光缆或光纤，将试样拉至水平位置；释放试样，让其自由落下撞击到混凝土硬物的垂直平面上，重复跌落过程 8 次；清洁试样后，测量并记录插入损耗值和回波损耗值。 c 、试验后的情况 —— 试验后试样的插入损耗变化量、回波损耗变化量和外形变化的测试结果应符合表 3 c 的要求。 图2　跌落试验图 b 、程序 —— 将试样在室温环境下进行预处理，并测量试样的插入损耗值和回波损耗值，作为试验前的原始值； —— 光纤现场连接器插头的试验装置如图 4 所示，光纤现场连接器插座的试验装置如图 5 所示。将试样以通常使用的方式予以插入和拔出，每一次测量并记录插入损耗值和回波损耗值，共插拔 10 次，记录 10 次数据。 c 、试验后的情况 —— 试验中和试验后试样的插入损耗变化量、回波损耗变化量和外形变化的测试结果应符合表 3 d 的要求。 4.2.12 机械耐久性 按照如下方法进行光纤现场连接器的机械耐久性测量： a 、条件 —— 插拔次数： 500 。 b 、程序 —— 将试样在室温环境下进行预处理，并测量试样的插入损耗值和回波损耗值，作为试验前的原始值； —— 光纤现场连接器插头的试验装置如图 4 所示，光纤现场连接器插座的试验装置如图 5 所示。将试样以通常使用的方式予以插入和拔出，每 10 次测量并记录插入损耗值和回波损耗值，共插拔 500 次，记录 50 次数据。 c 、试验后的情况 —— 试验中和试验后试样的插入损耗变化量、回波损耗变化量和外形变化的测试结果应符合表 3 e 的要求。 4.2.13 抗拉 按照如下方法进行光纤现场连接器的抗拉测量： a 、条件 —— 负荷重量：光纤型光纤现场连接器负荷为 4n ；光缆型光纤现场连接器负荷为 20n ； —— 负荷时间： 2 分钟； —— 施加负荷点离光纤现场连接器的距离： l ＝ 22 ～ 28cm 。 b 、程序 —— 将试样在室温环境下进行预处理，并测量试样的插入损耗值和回波损耗值，作为试验前的原始值； —— 如图 8 所示连接好试样，对试样施加负荷，持续 2 分钟，取下试样，测量并记录插入损耗值和回波损耗值。 c 、试验后的情况 —— 试验后试样的插入损耗变化量、回波损耗变化量和外形变化的测试结果应符合表 3 f 的要求。 图3　抗拉试验图 4.2.14 扭转 此试验仅适用于光缆型光纤现场连接器。 按照如下方法进行光纤现场连接器的扭转测量： a 、条件 —— 负荷重量： 14.7n ； —— 施加负荷点离光纤现场连接器的距离： l ＝ 22 ～ 28cm 。 —— 扭转速率： 10 次 / 分钟； —— 扭转次数： 200 次。 b 、程序 —— 将试样在室温环境下进行预处理，并测量试样的插入损耗值和回波损耗值，作为试验前的原始值； —— 如图 9 所示连接好试样，对试样施加负荷，将尾部的光缆按规定速率扭转 ±180℃ ，共计 200 次。取下试样，测量并记录插入损耗值和回波损耗值。 c 、试验后的情况 —— 试验后试样的插入损耗变化量、回波损耗变化量和外形变化的测试结果应符合表 3 g 的要求。 本产品的品牌是zh，型号是sc，插入损耗是0.3（db），回波损耗是50（db），插拔次数是100，尺寸是59（mm）